冷熱沖擊試驗箱根據待測試樣品的特殊性，分為兩箱式動態沖擊試驗機和三箱式靜態沖擊試驗機（提籃式與半封閉式），本設備可做冷熱沖擊，也可以做單獨高溫試驗或低溫試驗。廣泛應用于航空航天、電子電工、儀器儀表、汽車、通訊、集成電路、半導體等領域，可發現產品潛在缺陷，做應力篩選試驗，提高產品的可靠性和進行產品質量控制。

二、冷熱沖擊試驗機技術參數:

型號	BS-40H	BS-80H	BS-100H	BS-150H	BS-252H	BS-450H
內箱尺寸WHD(mm)	400350300	500400400	500450450	600500500	700600600	800750750
外箱尺寸WHD(mm)	110019301450	120020001550	150019501600	130012301670	175021201970	190022702210
重量(KG)	700	900	1100	1200	1400	1900
溫度范圍	（A-45℃ B-55℃ C-65℃ 高溫區： 60℃-150℃ 低溫區：-10℃--65℃ ）
升溫時間（蓄熱區）	RT-200℃約35min
降溫時間（蓄冷區）	RT—70℃約55min
溫度回復/切換時間	≤5min / ≤5sec以內
溫度精度/分布精度	±0.5℃ ±2.5% ℃
冷卻方式	風、水冷式/雙斷壓縮機
電源	AC380V ±10%V 50HZ/60HZ

三、兩箱冷熱沖擊試驗箱滿足標準：

1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產品環境試驗

第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則

4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件

8.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件

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兩箱冷熱沖擊試驗箱

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